학술대회 국내 대한민국 공동(교신) Bias Stress Instability of Amorphous IGZO TFTs with Free-Space-Gap as the Gate Dielectric
- 학술대회 구분 국내 > 대한민국
- 학술대회명 ENGE 2020(The 6th International Conference on Electronic Materials and Nanotechnology for Green Environment)(3개 국가이상 참여)
- 개최기관명 The Korean Institute of Metals and Materials
- 학술대회 발표논문집명 The 6th Int. Conf. on Electron. Mater. and Nanotechnology for Green Environment Programbook
- 발표일자 2020-11-03
- 저자명 김민회,유경민,김민정
- 저자구분 공동(교신)
- 전체저자수 3
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