논문 국내 국내전문학술지(KCI급) 참조영상 기반의 COF 결함 검출 및 분류 시스템
- 학술지 구분 국내전문학술지(KCI급)
- 게재년월 2013-08
- 저자명 김진수
- 학술지명 한국정보통신학회논문지
- 발행처명 한국정보통신학회
- 발행국가 국내
- 논문언어 한국어
- 전체저자수 1
홈페이지논문 초록 (Abstract)
본 논문에서는 초미세 패턴으로 구성된 칩-온-필름(Chip-on-Film, COF) 패키징 작업에서 발생하는 결함들을 참조영상에 기초하여 효율적으로 검출하고 분류하는 시스템을 제안한다. COF패키징 제작 과정에서 발 생하는 치명적인 결함은 개방(open), 일부개방(mouse bite, near open), 단 락(hard short) 및 돌기(protrusion, near short, soft short) 등을 포함한 다. 이러한 결함을 검출하기 위漫��기존에 직접 육안으로 식별하거 나 또는 전기회로 설계를 이용하는 방법을 사용하였다. 그러나 이러한 방 법은 매우 많은 시간�고비용이 요구되는 단점이 있다. 본 논문에서는 참 조영상을 사용하여 효과적으로 결함유무를 판단하고 결함이 발생되는 경 우에 결纛� 종류를 4 가지 형태로 분류하는 시스템을 제안한다. 제안방식 은 검사영상의 전처리, 관심영역 추출, 지역이진분석에 의한 이물 특징 분석 과 분류 등을 포함한다. 수많은 실험을 통해, 제안된 시스템은 초미세 패턴 을 가진 COF의 결함 검사 및 분류에 대해 기존의 방식에 비해 시간과 경비를 줄이는데 효과적임을 보인다.