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학술대회 해외 대한민국 공동(교신) Fault Detection in Automatic Manufacturing Processes via 2D Image Analysis Using a Combined CNN-LSTM Model

  • 학술대회 구분 해외 > 대한민국
  • 학술대회명 International Conference Advances in Production Management Systems (APMS)
  • 발표일자 2022
  • 저자명 N. Yu, S. Baek
  • 저자구분 공동(교신)