학술대회 해외 프랑스 공동(참여) Semiconductor Overhead Hoist Transport (OHT) Track Inspection System for Abnormality Detection with Autoencoder
- 학술대회 구분 해외 > 프랑스
- 학술대회명 17th IEEE lnternational Conference on Automation Science and Engineering (CASE)
- 발표일자 2021
- 저자명 J. Park, J. Myung, M. K. Jo, S. Baek, Y. J. Jang
- 저자구분 공동(참여)
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