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부분 영역 형상 측정 장치(APPARATUS FOR MEASURING SUB-APERTURE SURFACE PROFILE)
지적재산권 구분
국내
취득 구분
등록
출원 및 등록인명
한국기초과학지원연구원
취득 국가 구분
국내
출원(등록)일자
2020-01-02
출원/등록 국가
국내
발명인명
현상원,김이종,김건희
기술 분류
기계
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