연구홍보포털

특허 국내 특허 기계 광학 시편 표면 검사 장치 및 그 제어 방법(INSPECTION APPARATUS FOR SURFACE OF OPTIC SPECIMEN AND CONTROLLING METHOD THEREOF)

• 지적재산권 구분 국내
• 취득 구분 등록
• 출원 및 등록인명 한국기초과학지원연구원
• 취득 국가 구분 국내
• 출원(등록)일자 2018-11-09
• 출원/등록 국가 국내
• 발명인명 김이종,김홍승,정병준,김동욱,장기수,김건희
• 기술 분류 기계

홈페이지