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특허 국내 특허 기계 엑스선 분광 및 이미징 측정 시스템(MEASUREMENT SYSTEM FOR X-RAY SPECTROSCOPY AND IMAGING)

  • 지적재산권 구분 국내
  • 취득 구분 등록
  • 출원 및 등록인명 한국기초과학지원연구원
  • 취득 국가 구분 국내
  • 출원(등록)일자 2018-05-23
  • 출원/등록 국가 국내
  • 발명인명 김이종,현상원,이계승,허환,장기수,김건희
  • 기술 분류 기계
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