특허 국내 특허 기계 위상측정 광선편향법을 이용한 표면 검사 장치의 교정 방법 및 시스템(METHOD AND SYSTEM FOR CALIBRATION OF SURFACE MEASUREMENT DEVICE USING Phase measuring deflectometry)
- 지적재산권 구분 국내
- 취득 구분 등록
- 출원 및 등록인명 한국기초과학지원연구원
- 취득 국가 구분 국내
- 출원(등록)일자 2016-11-10
- 출원/등록 국가 국내
- 발명인명 현상원,김건희,김이종,김승현
- 기술 분류 기계
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