특허 국내 특허 기계 적외선 열화상 카메라를 이용하여 측정된 반도체 소자 온도 분포의 보정 방법 및 이에 이용되는 시스템(Method For Correcting Temperature Distribution of Semiconductor Device Measured by Infrared Thermal Imaging Camera And System Using The Same)
- 지적재산권 구분 국내
- 취득 구분 등록
- 출원 및 등록인명 한국기초과학지원연구원
- 취득 국가 구분 국내
- 출원(등록)일자 2013-04-09
- 출원/등록 국가 국내
- 발명인명 장기수,김건희
- 기술 분류 기계
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