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초고속 대량 시료 분석을 위한 장치 및 방법(HIGH THROUGHPUT APPARATUS AND METHOD FOR MULTIPLE SAMPLE ANALYSIS)
지적재산권 구분
국내
취득 구분
등록
출원 및 등록인명
한국기초과학지원연구원
취득 국가 구분
국내
출원(등록)일자
2009-11-19
출원/등록 국가
국내
발명인명
최명철,김현식,유종신,김건희,장기수
기술 분류
기계
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