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기술이전 위상측정 광선편향법을 이용한 표면 검사 장치의 교정 방법 및 시스템

• 기술이전년월 2018-11
• 포함된기술수 1
• 공동기술보유자수 3
• 이전기업명 (주)와이엔디케이

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